РЕНТГЕНОВСКАЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

РЕНТГЕНОВСКАЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЯ (рентгеноструктурный анализ), использование РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ для выявления молекулярной структуры КРИСТАЛЛА. Основана на явлении рентгеновской дифракции — рассеяния пучка рентгеновских лучей атомной структурой кристалла.

Каждое вещество имеет свою кристаллическую структуру. Рентгеновская кристаллография позволяет показать детали структуры с помощью облучения кристаллического образца (1) рентгеновскими лучами (2). Рентгеновские лучи образуются при бомбардировке вольфрамового анода (3) электронами в вакууме (4). Прорезь (5) фокусирует лучи на кристалле. Расстояние между плоскостями атомов в кристалле либо усиливает (6), либо ослабляет (7) рентгеновские лучи. Когда луч усиливается, возникающий луч (8) создает пятно (9) на фото пленке. Рисунок пятен служит ученым для установления точной структуры молекулы.